2011年全新第五版,使用技術(shù)重新設(shè)計的AT810D,穩(wěn)定性更佳,全新按鍵設(shè)計,操作更簡單。
AT810D采用高能處理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用,使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏儀器*的技術(shù),使其性能亦無可挑剔。
內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測試頻率,并且提供0.1V、0.3V和1V測試電平,使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng),使AT810D具有傻瓜式操作界面。
技術(shù)規(guī)格 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
性能特征 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
掃一掃 微信咨詢
©2024 深圳市美鑫儀器儀表電子有限公司 版權(quán)所有 備案號:粵ICP備14025211號
技術(shù)支持:儀表網(wǎng) GoogleSitemap 總訪問量:551214 管理登陸